射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試試驗(yàn)等級(jí)

試驗(yàn)等級(jí)定義的頻率范圍為150kHz-80MHz。9?150Khz頻率范圍內(nèi)，對(duì)來(lái)自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場(chǎng)所引起的感應(yīng)騷擾不要求測(cè)量。試驗(yàn)等級(jí)如表1所示。

表1，試驗(yàn)等級(jí)

試驗(yàn)等級(jí)選擇主要依據(jù)設(shè)備和電纜實(shí)際安裝時(shí)所接觸的電磁環(huán)境。表6-16中的等級(jí)劃 分依據(jù)如下。 

a．  1類：低電平輻射環(huán)境。無(wú)線電臺(tái)/電視臺(tái)位于的距離上的典型電平和低雄率發(fā)射接收機(jī)的典型電平。

b．  2類：中等電磁輻射環(huán)境。用在設(shè)備飭低功率便攜式發(fā)射機(jī)(典型額定值小于1W）。典型的商業(yè)環(huán)境。

c．  3類：嚴(yán)酷電磁輻射環(huán)境。用于相對(duì)靠近設(shè)備，但距離不小于1m的手提式發(fā)射接收機(jī)（≥2W）,用在靠近備的高功率廣播緒機(jī)和可能靠近工科醫(yī)設(shè)備。典型的工業(yè)環(huán)境。

d．  X類：特定產(chǎn)品通過協(xié)商或由產(chǎn)品規(guī)范和產(chǎn)品的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的開放等級(jí)。 選擇適用等級(jí)時(shí)，還要考慮到受試設(shè)備產(chǎn)生故障的后果，當(dāng)產(chǎn)生的后果嚴(yán)重時(shí)可以考慮 采用更嚴(yán)格的試驗(yàn)等級(jí)。

射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備

(1)    試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器

試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器包括在所要求點(diǎn)上以規(guī)定的信號(hào)電平將騷擾信號(hào)施加給每個(gè)耦合裝置輸 人端口的全部設(shè)備和部件。試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器的部件包括：射頻信號(hào)發(fā)生器G1，衰減器T1 (典型0?40dB、射頻開關(guān)S1、寬帶功率放大器PA、低通濾波器(LPF)和/或高通濾波器(HPF)、衰減器T2。具體的組合如圖1所示。

圖1，試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器的配置

表2試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器的特性

(2)    耦合和去耦裝置

為使騷擾信號(hào)合適地耦合到連接受試設(shè)備的各種電纜上，應(yīng)用耦合和去耦裝置。耦合和 去耦裝置可組合成一個(gè)盒子，或由幾部分組成。耦合和去耦裝置的主要參數(shù)共模阻抗，在受試設(shè)備端口看進(jìn)去應(yīng)符合表6-1&所示。

表3，耦合和去耦裝置的主要參數(shù)

(3)    耦合和去耦裝置的受試設(shè)備端口上共模阻抗的校驗(yàn)

耦合和去耦裝置是由受試設(shè)備端口上看進(jìn)去的共模阻抗∣Zce∣來(lái)表征的，其值的正確性保證了測(cè)量結(jié)果的重現(xiàn)性。

耦合和去耦合裝置與阻抗參考平面應(yīng)放在參考接地平面上，參考接地平面的尺寸應(yīng)超過設(shè)備所有邊的幾何投影尺寸至少0.2m。使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀或阻抗儀應(yīng)有50Ω的參考阻抗，應(yīng)在阻抗參考平面上校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀。在阻抗參考鏈接點(diǎn)和受試連接點(diǎn)和受試設(shè)備端口之間必須用短線連接線（≤30mm）的幾何尺寸驗(yàn)證∣Zce∣。

(4)    試驗(yàn)配制

受試設(shè)備應(yīng)放在參考接地平面上面0.1m高的絕緣支架上,將合適的耦合和去親裝置提 供給全部有關(guān)電纜。裝置與參考接地平面上受試設(shè)備的幾何投影在0.1?0.3m范圍內(nèi)。對(duì)屏蔽電纜是將騷擾信號(hào)電流注人到電纜的屏蔽層，對(duì)非屏蔽電纜是將騷擾信號(hào)通過耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN)注入各條饋線上。射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)配置如圖2所示。

圖2，射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)配置圖

射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試步驟

注入電流試驗(yàn)中，注入方法的選擇是進(jìn)行試驗(yàn)的第一步，根據(jù)設(shè)備的性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)可 選擇以下注入方式。

(1)    直接注入

來(lái)自信號(hào)發(fā)生器的騷擾信號(hào)通過100Ω的電阻被注人到同軸電纜的屏蔽層上，在輔助設(shè)備和注人點(diǎn)之間盡可能靠近注入點(diǎn)處插人一個(gè)去耦網(wǎng)絡(luò)。此去耦網(wǎng)絡(luò)通常由各種電感組成，以便在整個(gè)頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生高阻抗，一般要求在150kHz的頻率上至少是280µ的電感量。同時(shí)要求電抗足夠高，在26MHz以下頻率電抗應(yīng)≥260Ω，在26MHz以上頻率電抗應(yīng)≥150Ω。

另外，去耦網(wǎng)絡(luò)還應(yīng)用于不被測(cè)量但連接到受試設(shè)備或輔助設(shè)備的全部電纜上。 

(2)    鉗注入法

鉗注入法是指采用電流鉗或電磁鉗實(shí)現(xiàn)#號(hào)發(fā)生器和受試設(shè)備連接的方法。電流鉗的作 用是對(duì)連接到設(shè)備的電纜建立感性耦合，電磁鉗的作用是對(duì)連接受試設(shè)備的電纜建立感性和 容性耦合。這兩種鉗注入裝置耦合和去耦部分都是分開的，由鉗式裝置提供耦合，而共模阻 抗和去耦功能是建立在輔助設(shè)備上的。

注人法的具體程序由圖3給出。   

圖3，注入法選擇程序 

對(duì)于來(lái)自試驗(yàn)配置的輻射應(yīng)遵守有關(guān)干擾法則，當(dāng)輻射的能量超過允許的電平時(shí)，應(yīng)在 屏蔽室內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)。依次將試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器連到每個(gè)耦合和去耦裝置上，而其他不被激勵(lì)的 耦合裝置的射頻輸人端口應(yīng)端接50Ω電阻負(fù)載。為了防止諧波干擾受試設(shè)備，應(yīng)使用濾波器。試驗(yàn)信號(hào)在每一頻率上的駐留時(shí)間不應(yīng)少于受試設(shè)備所需的運(yùn)行和響應(yīng)時(shí)間。試驗(yàn)期閭 應(yīng)設(shè)法充分操作受試設(shè)備，并充分審查抗擾度試驗(yàn)所選擇的全部操作方式，推薦使用專門的 操柃程序。

無(wú)論是直接注人還是鉗注入，均應(yīng)對(duì)騷擾源的電平進(jìn)行調(diào)整，按所需的試驗(yàn)電平進(jìn)行試 驗(yàn)。具體方法是用手動(dòng)或自動(dòng)方法在150kHz?80MHz (或230MHz)頻率范圍進(jìn)行掃描，按試驗(yàn)判據(jù)檢查受試設(shè)備的功能和性能是否正常。掃描速率不能超過1，5×10-3十倍頻程/S。當(dāng)掃描速率曾加時(shí)，步進(jìn)大小不應(yīng)超過起始頻率的1%，此后步進(jìn)的大小不應(yīng)超過前一頻率值的1%，在每一頻率上的駐留時(shí)間不應(yīng)小于受試設(shè)備—的運(yùn)行和響應(yīng)時(shí)間。

以上為共模注入騷擾信號(hào)的方法，共模注入點(diǎn)是指受試設(shè)備注入騷猶信號(hào)的點(diǎn)，對(duì)連接電纜而言是電纜的屏蔽層，對(duì)非屏蔽饋線（如電源線）是指注入網(wǎng)絡(luò)中RC線路與每根線相交的點(diǎn)。